SoC/模擬測試系統(tǒng) 3650-S2產(chǎn)品特色

●12個通用插槽，全部插槽都可配置數(shù)字、模擬和混合信號集成電路測試單板使用

●多達(dá)768個數(shù)字和模擬測試通道時鐘頻率: 50 /100 MHz

●數(shù)據(jù)速率:100 /200 Mbps (MUX)時序沿設(shè)置精度(EPA):±300ps32 MW 向量存儲深度

●32 MW 向量指令存儲深度

●各數(shù)字通道均內(nèi)建 PPMU/頻率量測單元2G SCAN向量存儲深度

●ALPG 功能可供存儲器測試使用(可選配)多達(dá)48個高電壓通道多種規(guī)格VI浮動源單板

●64通道高密度電源供應(yīng)單板HDDPS2(可選配)

●高達(dá)3750V串聯(lián)輸出電壓模擬測試單板HVVI(可選配)

●8通道波形發(fā)生器(AWG)加8通道數(shù)字化轉(zhuǎn)換器(Digitizer)音頻頻段混合信號測試單板ASO(可選配)

●最高320A pulse高電流測試單板MPVI(可選配)32通道模擬測試單板VI45(可選配)

●8通道高壓模擬測試單板 PVI100(可選配)預(yù)留大面積測試接口板元器件擺放區(qū)域測試機(jī)配置大功率電源

●Microsoft Windows® 7 / Windows®10操作系統(tǒng) C++和 GUI 編程界面

●工具易用且完整的操作界面CRISP

●提供其他測試平臺程序和向量轉(zhuǎn)換工具

●透過轉(zhuǎn)接套件可兼容其他測試平臺的測試接口板(PIB)與探針卡支持 STDF 格式數(shù)據(jù)輸出

●風(fēng)冷式散熱設(shè)計，占地面積小

半導(dǎo)體制造為一發(fā)展迅速前進(jìn)的產(chǎn)業(yè)。當(dāng)待測器件的功能集成度變得越來越高時，生產(chǎn)設(shè)備需針對產(chǎn)品更新?lián)Q代與多個應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行設(shè)計。

Chroma 3650-S2具有靈活的配置，多種可選配功能，例如AD /DA 轉(zhuǎn)換器測試、ALPG供內(nèi)存測試、高電壓PE、Multi-SCAN測試及模擬測試，使其能廣泛測試多種不同的裝置。3650-S2特別適用于測試電源管理類芯片，同時也可用于SoC產(chǎn)品測試，搭配多種不同的VI浮動電源選配板卡如HDDPS2、HVVI、PVI100和MPVI，可以達(dá)到3750V或320A的供電能力，涵蓋高精度、高電壓和大電流的測試需求。

3650-S2測試系統(tǒng)具備完整的測試功能、高精準(zhǔn)度、強(qiáng)大的軟件和出色的可靠性，是測試高性能MCU、模擬芯片、消費(fèi)性SoC的理想選擇，同時，憑借高產(chǎn)出和高并行的測試能力，3650-S2可為芯片設(shè)計公司、IDM和測試廠提供高性價比解決方案。

高性價比的高性能測試系統(tǒng)

Chroma 3650-S2具備高產(chǎn)出和高并行的測試能力，可為芯片設(shè)計公司、IDM和測試廠提供高性價比的解決方案，其完整的測試功能、高精準(zhǔn)度、強(qiáng)大的軟件和出色的可靠性，使其成為測試電源管理類芯片、模擬芯片、化合物半導(dǎo)體及MCU的理想選擇。

3650-S2提供多種VI電源選配單板，如HDDPS2、HVVI、VI45、PVI100 和MPVI，包含高密度、高電壓、大電流、高精度量測功能，具備高達(dá)768個數(shù)字和模擬通道管腳以及模擬測試功能，可提供高測試性能、高產(chǎn)出，同時具有高性價比的測試解決方案。

高并行測試能力

3650-S2測試系統(tǒng)具有強(qiáng)大多功能的并行管腳電路(PE)，因此可以同時在多個管腳進(jìn)行相同的參數(shù)測試。3650-S2將64個數(shù)字通道管腳集成到一張LPC單板上，每張LPC單板包含16顆4通道的時序發(fā)生器的高性能Chroma PINF芯片。

單板上集成管理信號分配和數(shù)據(jù)讀出的控制芯片，因此減少了測試機(jī)系統(tǒng)控制器的負(fù)擔(dān)。3650-S2采用any-pin-to-anysite mapping 設(shè)計，提供高達(dá)32 sites 的高并行測試能力，通過靈活直觀地資源分配來促進(jìn)大規(guī)模量產(chǎn)。

靈活的配置與廣泛的應(yīng)用覆蓋范圍

半導(dǎo)體制造為一發(fā)展迅速前進(jìn)的產(chǎn)業(yè)，生產(chǎn)設(shè)備須能使用于多個產(chǎn)品型號更替與應(yīng)用領(lǐng)域，以延長設(shè)備使用期限。Chroma3650-S2提供AD/DA轉(zhuǎn)換器測試、ALPG供內(nèi)存測試、高電壓PE、Multi-SCAN測試及模擬測試等多種可選配功能，靈活的配置確保其能應(yīng)對未來的測試需求。

Chroma 3650-S2測試系統(tǒng)能輕松整合第三方廠商為特定應(yīng)用所開發(fā)的相關(guān)儀器設(shè)備，彈性結(jié)構(gòu)設(shè)計使其能涵蓋測試的裝置更廣泛，擴(kuò)展了測試的覆蓋范圍。

占地面積小

Chroma 3650-S2采用風(fēng)冷式散熱及高度集成的測試頭設(shè)計，占地面積小卻能提供高高產(chǎn)量。透過選配不同的支架，3650-S2可以應(yīng)用于晶圓或封裝測試。

CRISP 完整軟件直觀操作環(huán)境

Chroma 3650-S2采用Chroma整合軟件平臺CRISP，這是一套易于操作且功能強(qiáng)大的軟件工具，讓使用者可以高效地進(jìn)行測試開發(fā)，其功能涵蓋調(diào)試、量產(chǎn)及數(shù)據(jù)分析等，整合了測試程序開發(fā)、測試執(zhí)行控制、數(shù)據(jù)分析、測試機(jī)管理等所有軟件功能，采用Microsoft Windows操作系統(tǒng)及C++程序語言，提供使用者強(qiáng)大、快速和友善操作的GUI工具。

在測試程序整合開發(fā)環(huán)境(ProjectIDE tool)內(nèi)，測試開發(fā)人員可以在標(biāo)準(zhǔn)模板、自定義模板和使用C++程序語言的編輯器之間輕松轉(zhuǎn)換，快速創(chuàng)建測試程序并自動擴(kuò)展至多工位以便進(jìn)行并行測試，此外，如果需從其他測試平臺轉(zhuǎn)移至3650-S2，CRISP還提供測試程序和測試向量轉(zhuǎn)換工具，除了提升設(shè)備整合開發(fā)彈性，也能降低轉(zhuǎn)移的時間成本。測試程序執(zhí)行控制器可以在System Control tool和Plan Debugger tool這兩種工具之間切換，讓使用者在量產(chǎn)或工程調(diào)試模式都能有效率地操作，使用者可以在Plan Debugger tool內(nèi)透過設(shè)置breakpoint、step、step-into、step-over、resume execution、variable-watch及variablemodify來執(zhí)行測試程序的進(jìn)程。

CRISP提供豐富軟件工具來進(jìn)行工程調(diào)試和數(shù)據(jù)分析，包含Datalog、Waveform 及Scope 工具可以清楚的顯示測量數(shù)據(jù)和數(shù)字波型，SHMOO 和Pin Margin工具可以透過自動或手動模式輕松地進(jìn)行工程調(diào)試以找出邊沿參數(shù)，Wafer Map.Summary、Histogram 及STDF這些工具可以有效幫助搜集測試結(jié)果和分析測試指標(biāo)，Test Condition Monitor 和 Pattern Editor工具提供實(shí)時工程調(diào)試的進(jìn)階功能，并且在不影響測試或調(diào)整源文件的狀況下，允許用戶調(diào)整測試條件或測試向量。另外，CRISP還為模擬測試和 ALPG選配功能提供ADDA tool和Bit Map tool，運(yùn)用ADDA tool時，用戶不但可以透過圖形化工具來檢視AD/DA的測試結(jié)果，還能輕松自行創(chuàng)建ADC向量。這套強(qiáng)大的 GUI工具可以完整地滿足你對于工程調(diào)試和生成測試報告的所有功能需求。

操作員界面(OCI) 是使用于量產(chǎn)的操作界面，它能簡化并確保量產(chǎn)測試的正確運(yùn)作，在讓操作員操作OCI之前，工程師可以事先在量產(chǎn)設(shè)置頁面(Production Setup)設(shè)定好量產(chǎn)時所需的相關(guān)參數(shù)，后續(xù)當(dāng)操作員使用OCI時，只需選擇設(shè)定好的計劃即可執(zhí)行量產(chǎn)測試。

周邊設(shè)備

Chroma 3650-S2提供多種驅(qū)動程序，可藉由GPIB和TTL協(xié)議與探針臺及分選機(jī)通訊，支援的探針臺及分選機(jī)包含CHROMA、SEIKO-EPSON、HONTECH、 SHIBASOKU、MULTITEST、ASECO、DAYMARC、TEL、TSK和 OPUS。除此之外，3650-S2提供與常見測試平臺的轉(zhuǎn)接方案，透過轉(zhuǎn)接套件使其能兼容其他測試平臺的測試接口板(PIB)與探針卡，以利測試平臺的轉(zhuǎn)移及降低轉(zhuǎn)移成本。

SoC/模擬測試系統(tǒng) 3650-S2應(yīng)用支持

Chroma為客戶提供應(yīng)用支持，針對您的需求Chroma可提供您客制化的支持，不論您是需要提高產(chǎn)量、利用新興的市場機(jī)會提高生產(chǎn)力或是運(yùn)用創(chuàng)新的策略降低測試成本， Chroma的全球服務(wù)團(tuán)隊都致力于為您提供及時有效的解決方案。