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產品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣 |
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KOSAKA粗度儀DSF900表面粗度輪廓形狀測定機
產品概述：
● 可解析表面粗度的各種參數、輪廓的所有形狀。
測量原理：一次測量粗糙度和輪廓。
KOSAKA小坂研究所，營業(yè)項目：自動車光電半導體精密測定機器，表面粗度測定機，微細形狀測定，輪廓形狀測定機，真圓度測定/真圓度圓筒形狀測定機
營業(yè)項目適應行業(yè)：
表面粗糙度測量機：使用鉆石或是激光光學測針、接觸（追蹤）加工件表面、測量出工件表面微細凹凸、并以定型或定量來分析粗糙度參數。
微細形狀、臺階測量計：FPD基板、硅晶片、硬磐等表面微細形狀、臺階、粗糙度測量
圓度、圓柱形狀測量機：測量發(fā)動機、缸體、活塞、曲軸、軸承等，具有圓度圓柱度、球形、平面形狀的工件，評估圓度、圓柱度、直線度、同軸度等形狀精度
輪廓測量機：以測針追蹤加工部件外形測量出輪廓，分析出輪廓各部位的角度，半徑、間隔、臺階、段差等等
型號匯總
表面粗度測定機
KOSAKA小坂表面粗度測定機SE300
KOSAKA小坂表面粗度測定機SE500A
KOSAKA小坂二次元粗度測定機SE600
KOSAKA小坂表面粗度測定機SE610
KOSAKA小坂三次元粗度測定機SE600K31
KOSAKA小坂表面粗度測定機SE700
KOSAKA小坂表面粗度測定機SE700K31
KOSAKA小坂表面形狀粗度測定機DSF600
KOSAKA小坂表面形狀粗度測定機DSF900
KOSAKA小坂防振臺附架臺SMB-7
表面粗糙度輪廓測量機
SEF680粗糙度輪廓測定一體機KOSAKA小坂
SEF681D表面粗度輪廓形狀測定機KOSAKA小坂
SEF781D表面粗度輪廓形狀測定機KOSAKA小坂
SEF680K31表面粗度輪廓形狀測定機KOSAKA小坂
輪廓形狀測定機
KOSAKA小坂輪廓形狀測定機EF550A-M50
KOSAKA小坂輪廓形狀測定機EF550A-M5·B
KOSAKA小坂輪廓形狀測定機EF550A-M58
KOSAKA小坂輪廓形狀測定機EF550A-G18
KOSAKA小坂輪廓形狀測定機EF550A-G18D
KOSAKA小坂輪廓形狀測定機EF650
KOSAKA小坂輪廓形狀測定機EF651D
KOSAKA小坂輪廓形狀測定機REF100
微細形狀測定機
臺階儀微細形狀測定機ET200日本KOSAKA小坂
微細形狀測定機ET4000A日本KOSAKA小坂
微細形狀測定機ET4000AK日本KOSAKA小坂
微細形狀測定機ET4000M日本KOSAKA小坂
微細形狀測定機ET4000L日本KOSAKA小坂
微細形狀測定機ET4300日本KOSAKA小坂
微細形狀測定機ET10000日本KOSAKA小坂
真圓度圓柱度測定機
日本KOSAKA小坂真圓度測定機EC600
日本KOSAKA小坂真圓度圓柱度測定機EC1550H
日本KOSAKA小坂真圓度圓柱度測定機EC1850H
日本KOSAKA小坂真圓度圓柱度測定機EC1850P
日本KOSAKA小坂真圓度圓柱度測定機EC3300P
日本KOSAKA小坂真圓度圓柱度測定機EC2500H
日本KOSAKA小坂真圓度圓柱度測定機EC2700H
日本KOSAKA小坂真圓度圓柱度測定機EC3600A
日本KOSAKA小坂真圓度圓柱度測定機EC36008
日本KOSAKA小坂真圓度圓柱度測定機EC3600C
日本KOSAKA小坂真圓度圓柱度測定機EC4100H
日本KOSAKA小坂真圓度圓柱度測定機EC5100H
日本KOSAKA小坂真圓度圓柱度測定機EC6100
其他
KOSAKA小坂非接觸式檢出器PU-0S500
校正用標準片SS-N日本KOSAKA小坂
校正用標準片SS-A日本KOSAKA小坂
校正用標準片SS-G22日本KOSAKA小坂
校正用標準片SS-F日本KOSAKA小坂
校正用標準片SS-T日本KOSAKA小坂
校正用標準片SS-1日本KOSAKA小坂
校正用標準片SS-E日本KOSAKA小坂
校正用標準片SS-S日本KOSAKA小坂
KOSAKA小坂圓周粗度測定臺SRA-21
KOSAKA小坂薄膜試片臺BA-41
KOSAKA小坂防振臺ECV40
KOSAKA小坂回轉機構附對芯治具MRC-20
KOSAKA小坂對芯治具MRC12
KOSAKA小坂倍率標準片SS-C
KOSAKA小坂檢出器PU-UG5SC
KOSAKA小坂檢出器PU-UG4SC
KOSAKA小坂檢出器PU-UG4S
KOSAKA小坂真圓度標準片SS-R
KOSAKA粗度儀DSF900表面粗度輪廓形狀測定機
表面形狀粗度測定機DSF900產品參數
| Z分解能/測定范圍 | 0.0075um/12mm 0.015um/24mm |
|---|---|
| Z檢出方式 | 半導體雷射軸標 |
| 觸針/測定力/針尖角度 | R2um/0.75mN/60° R25um/10mN/25° |
| 解析項目 | 形狀解析（要素、方位向量、統計量、MASTER比較、公差判定） 表面粗度(JIS、ISO、DIN、ANSI、BS) 表面波紋(JIS) |
| 最大測定范圍 | X:100mm |
| 直線度精度 | 0.4um/100mm |
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