同惠TH511半導體C-V特性分析儀

• TH510系列半導體C-V特性分析儀是同惠電子針對半導體材料及器件生產與研發(fā)的分析儀器。

  TH510系列半導體C-V特性分析儀創(chuàng)新性地采用了雙CPU架構、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內置使用說明及幫助等新一代技術，適用于生產線快速分選、自動

  化集成測試及滿足實驗室研發(fā)及分析。

  TH510系列半導體C-V特性分析儀測試頻率為10kHz-2MHz， VGS電壓可達±40V，足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體件CV特性測試分析。

  得益于10.1英寸、分辨率達1280*800的電容式觸摸屏，TH510系列半導體器件C-V特性分析儀可將四個參數(shù)同屏顯示、所有設置、監(jiān)視、分選參數(shù)、狀態(tài)等可以在同一屏顯示，避免了頻繁的切換的操作。

  

  功能特點

  A.單點測試，10.1英寸大屏，四種寄生參數(shù)同屏顯示，讓細節(jié)一覽無遺

  10.1英寸觸摸屏、1280*800分辨率，Linux系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠標、LAN接口，帶來了無以倫比的操作便捷性。

  MOSFET最重要的四個寄生參數(shù)：Ciss、Coss、Crss、Rg在同一個界面直接顯示測量結果，并將四個參數(shù)測試等效電路圖同時顯示，一目了然。

  多至6個通道測量參數(shù)可快速調用，分選結果在同一界面直接顯示。

  

  B.列表測試，靈活組合

  TH510系列半導體C-V特性分析儀支持最多6個通道、4個測量參數(shù)的測試及分析，列表掃描模式支持不同通道、不同參數(shù)、不同測量條件任意組合，并可設置極限范圍，并顯示測量結果 。

  

  C.曲線掃描功能（選件）

  TH510系列半導體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析，可以對數(shù)、線性兩種方式實現(xiàn)曲線掃描，可同時顯示多條曲線：同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線；同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 。

  

  D.簡單快捷設置

  

  E.10檔分選及可編程HANDLER接口

  儀器提供了10檔分選，為客戶產品質量分級提供了可能，分選結果直接輸出至HANDLER接口。

  在與自動化設備連接時，怎么配置HANDLER接口輸出，一直是自動化客戶的難題，TH510系列將HANDLER接口腳位、輸入輸出方式、對應信號、應答方式等*可視化，讓自動化連接更簡單。

  

  F.支持定制化，智能固件升級方式

  同惠儀器對于客戶而言是開放的，儀器所有接口、指令集均為開放設計，客戶可自行編程集成或進行功能定制，定制功能若無硬件更改，可直接通過固件升級方式更新。

  儀器本身功能完善、BUG解決、功能升級等，都可以通過升級固件(Firmware)來進行更新，而無需返廠進行。

  固件升級非常智能，可以通過系統(tǒng)設置界面或者文件管理界面進行，智能搜索儀器內存、外接優(yōu)盤甚至是局域網(wǎng)內升級包，并自動進行升級

  

  G.半導體元件寄生電容知識

  在高頻電路中，半導體器件的寄生電容往往會影響半導體的動態(tài)特性，所以在設計半導體元件時需要考慮下列因數(shù)

  在高頻電路設計中往往需要考慮二極管結電容帶來的影響；MOS管的寄生電容會影響管子的動作時間、驅動能力和開關損耗等多方面特性；寄生電容的電壓依賴性在電路設計中也是至關重要，以MOSFET為例。

  

  H.標配附件

  

  
  

• 應用

• ■ 半導體元件/功率元件

  二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光

  電子芯片等寄生電容測試、C-V特性分析

  ■ 半導體材料

  晶圓、C-V特性分析

  ■ 液晶材料

  彈性常數(shù)分析

  
  

• 同惠TH511半導體C-V特性分析儀技術參數(shù)

• 產品型號		TH511		TH512	TH513
  通道數(shù)		2（可選配4/6通道）			2
  顯示	顯示器	10.1英寸(對角線)電容觸摸屏
  	比例	16:9
  	分辨率	1280×RGB×800
  測量參數(shù)		CISS、COSS、CRSS、Rg，四參數(shù)任意選擇
  測試頻率	范圍	10kHz-2MHz
  	精度	0.01%
  	分辨率	10mHz                                     1.00000kHz-9.99999kHz
  		100mHz                                   10.0000kHz-99.9999kHz
  		1Hz                                          100.000kHz-999.999kHz
  		10Hz                                        1.00000MHz-2.00000MHz
  測試電平	電壓范圍	5mVrms-2Vrms
  	準確度	±（10%×設定值+2mV）
  	分辨率	1mVrms                                    5mVrms-1Vrms
  		10mVrms                                  1Vrms-2Vrms
  VGS電壓	范圍	0 - ±40V
  	準確度	1%×設定電壓+8mV
  	分辨率	1mV                                           0V - ±10V
  		10mV                                        ±10V -±40V
  VDS電壓	范圍	0 - 200V		0 - 1500V	0 - 3000V
  	準確度	1%×設定電壓+100mV
  輸出阻抗		100Ω，±2%@1kHz
  數(shù)學運算		與標稱值的絕對偏差Δ，與標稱值的百分比偏差Δ%
  校準功能		開路OPEN、短路SHORT、負載LOAD
  測量平均		1-255次
  AD轉換時間（ms/次）		快速+：0.56ms(＞5kHz) 快速：3.3ms 中速：90ms 慢速：220ms
  最高準確度		0.1%（具體參考說明書）
  CISS、COSS、CRSS		0.00001pF - 9.99999F
  Rg		0.001mΩ - 99.9999MΩ
  Δ%		±（0.000% -   999.9%）
  多功能參數(shù)列表掃描	點數(shù)	20點，每個點可設置平均數(shù)，每個點可單獨分選
  	參數(shù)	測試頻率、Vg、Vd、通道
  	觸發(fā)模式	順序SEQ：當一次觸發(fā)后，在所有掃描點測量，/EOM/INDEX只輸出一次
  		步進STEP：每次觸發(fā)執(zhí)行一個掃描點測量，每點均輸出/EOM/INDEX，但列表掃描比較器結果只在最后的/EOM才輸出

  圖形掃描	掃描點數(shù)		任意點可選，最多1001點
  	結果顯示		同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線；同一Vg、不同參數(shù)多條曲線
  	顯示范圍		實時自動、鎖定
  	坐標標尺		對數(shù)、線性
  	掃描參數(shù)		Vg、Vd
  	觸發(fā)方式	單次	手動觸發(fā)一次，從起點到終點一次掃描完成，下個觸發(fā)信號啟動新一次掃描
  		連續(xù)	從起點到終點無限次循環(huán)掃描
  	結果保存		圖形、文件
  比較器	Bin分檔		10Bin、PASS、FAIL
  	Bin偏差設置		偏差值、百分偏差值、關
  	Bin模式		容差
  	Bin計數(shù)		0-99999
  	檔判別		每檔最多可設置四個參數(shù)極限范圍，四個測試參數(shù)結果設檔范圍內顯示對應檔號，超出設定最大檔號范圍則顯示FAIL，未設置上下限的測試參數(shù)自動忽略檔判別
  	PASS/FAIL指示		滿足Bin1-10,前面板PASS燈亮，否則FAIL燈量
  存儲調用	內部		約100M非易失存儲器測試設定文件
  	外置USB		測試設定文件、截屏圖形、記錄文件
  鍵盤鎖定			可鎖定前面板按鍵，其他功能待擴充
  接口	USB HOST		2個USB HOST接口，可同時接鼠標、鍵盤，U盤同時只能使用一個
  	USB DEVICE		通用串行總線插座，小型B類（4個接觸位置）；與USB TMC-USB488和USB2.0相符合，陰接頭用于連接外部控制器。
  	LAN		10/100M以太網(wǎng)，8引腳，兩種速度選擇
  	HANDLER		用于Bin分檔信號輸出
  	RS232C		標準9針，交叉
  	RS485		可以接收改制或外接RS232轉RS485模塊
  開機預熱時間			60分鐘
  輸入電壓			100-120VAC/198-242VAC可選擇，47-63Hz
  功耗			不小于130VA
  尺寸（WxHxD）mm			430x177x405
  重量			16kg